• 公告ID (KylinSec-SA-2022-2486)

摘要:

Memory corruption due to use after free issue in kernel while processing ION handles in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer Electronics Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Voice & Music, Snapdragon Wearables

安全等级: Low

公告ID: KylinSec-SA-2022-2486

发布日期: 2022年10月21日

关联CVE: CVE-2022-22058  

  • 详细介绍

1. 漏洞描述

   

Memory corruption due to use after free issue in kernel while processing ION handles in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Consumer Electronics Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Voice & Music, Snapdragon Wearables

2. 影响范围

cve名称 产品 组件 是否受影响
CVE-2022-22058 KY3.4-4A kernel Unaffected
CVE-2022-22058 KY3.4-5 kernel Unaffected
CVE-2022-22058 KY3.5.1 kernel Unaffected

3. 影响组件

    无

4. 修复版本

    无

5. 修复方法

   无

6. 下载链接

    无
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